烴露點(diǎn)儀采用冷鏡法原理，基于露點(diǎn)物理定義進(jìn)行測(cè)量，使用高度惰性、先進(jìn)的晶體陶瓷作為基體，利用紅外光源及光譜儀判斷冷凝層的形成，并對(duì)其進(jìn)行定性，從根本上解決了傳統(tǒng)的冷鏡露點(diǎn)儀不能判斷產(chǎn)生的冷凝物性質(zhì)的不足，并獲得專(zhuān)利。
許多行業(yè)諸如石化、電力、電子、航空航天、冶金、紡織等對(duì)濕度測(cè)量的要求越來(lái)越高，因而，烴露點(diǎn)儀濕度測(cè)量已逐漸成為一個(gè)新興的技術(shù)領(lǐng)域，在86年我國(guó)正式成立了濕度與水分專(zhuān)業(yè)委員會(huì)，并開(kāi)展了多次學(xué)術(shù)交流會(huì)，濕度的一些計(jì)量檢定規(guī)程也逐步建立。
根據(jù)有關(guān)規(guī)程，濕度被定義為氣體中的水蒸氣含量，常用單位有：克/升，PPM，mmHg，露點(diǎn)及相對(duì)濕度等。習(xí)慣上以露點(diǎn)-20℃為界把所測(cè)氣體分為高濕度氣體與低濕度氣體(即微量水)，這里重點(diǎn)介紹低濕度氣體的測(cè)量。
在露點(diǎn)測(cè)量中，鏡面污染是一個(gè)突出的問(wèn)題，其影響主要表現(xiàn)在兩個(gè)方面;一是拉烏爾效應(yīng)，拉烏爾效應(yīng)是由水溶性物質(zhì)造成的。如果被測(cè)氣體中攜帶這種物質(zhì)(一般是可溶性鹽類(lèi))則鏡面提前結(jié)露，使測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生正偏差。
二是改變鏡面本底放射水平。若污染物是不溶于水的微粒，如灰塵等，則會(huì)增加本底的散射水平，從而使光電露點(diǎn)儀發(fā)生零點(diǎn)漂移。此外，一些沸點(diǎn)比水低的容易冷凝的物質(zhì)(例如有機(jī)物)的蒸氣，不言而喻將對(duì)露點(diǎn)的測(cè)量產(chǎn)生干擾。
因此，無(wú)論任何一種類(lèi)型的烴露點(diǎn)儀都應(yīng)防止污染鏡面。一般說(shuō)來(lái)，工業(yè)流程氣體分析污染的影響是比較嚴(yán)重的。但即使是在純氣的測(cè)量中鏡面的污染亦會(huì)隨時(shí)間增加而積累。 |
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